标准号GB/T 41765-2022状态
发布于:2022-10-14
实施于:2023-05-01
碳化硅单晶位错密度的测试方法基本信息
英文标题:Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide
标准号:GB/T 41765-2022
标准类别:方法
中国标准分类号:H21
国际标准分类号: 77.040 77 冶金 77.040 金属材料试验
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
国家标准《碳化硅单晶位错密度的测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。