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半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 (SJ/T 2214-2015)

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半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 (SJ/T 2214-2015)

标准号SJ/T 2214-2015状态

发布于:2015-04-30

实施于:2015-10-01

半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

标准号:SJ/T 2214-2015

中国标准分类号:L54

国际标准分类号:31.080

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

郭萍、王波、崔大键

中电子科技集团公第四十四研究所

本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管(以下简称“器件”)光电参数的测试方法。 本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。 本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。

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