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用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法 (YD/T 2001.2-2011)

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用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法 (YD/T 2001.2-2011)

标准号YD/T 2001.2-2011状态

发布于:2011-12-20

实施于:2012-02-01

用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

标准号:YD/T 2001.2-2011

中国标准分类号:M33

国际标准分类号:33.180.01

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

梁泽、李小兵

深圳新飞通光电子技术有限公司、武汉邮电科学研究院

本部分规定了用于光纤系统或子系统的半导体光电子器件的测试方法。本部分适用于半导体光电子器件。

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