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光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法 (SJ/T 11405-2009)

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光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法 (SJ/T 11405-2009)

标准号SJ/T 11405-2009状态

发布于:2009-11-17

实施于:2010-01-01

光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

标准号:SJ/T 11405-2009

中国标准分类号:L50

国际标准分类号:33.180

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

赵英、陈兰

信息产业部电子工业研究

主要规定了光发射器件的辐射功率、正向电流、开关时间等电参数和光电参数的测量方法,以及光电探测器件的噪声、开关时间、响应度等电参数和光电参数的测量方法。

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