标准号GB/T 24578-2015状态
发布于:2015-12-10
实施于:2017-01-01
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法基本信息
标准号:GB/T 24578-2015
全部代替标准:GB/T 24578-2009
中国标准分类号:H17
国际标准分类号: 77.040 77 冶金 77.040 金属材料试验
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
国家标准《硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。