标准号T/CIE 121-2021状态
逆导型IGBT的热阻测试方法基本信息
标准编号：T/CIE 121—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
起草人：：陈媛、来萍、何小琦、冯士维、刘宇、李彦锋、王嘉蓉、田文燕、孟繁新、陈义强、付志伟、贺志远、周斌、刘昌
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、北京工业大学、中国振华集团永光电子有限公司、西安卫光半导体有限公司
是否包含专利信息：是
本文件以IGBT中体二极管导通电压为热敏参数，建立适用于逆导型IGBT器件的热阻测试电路和方法，规范逆导型IGBT的热阻测试流程，提高测试准确性。……