标准号T/CIE 119-2021状态
半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序基本信息
标准编号：T/CIE 119—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
起草人：张战刚、雷志锋、黄云、郭雁泽、于全芝、梁天骄、郭红霞、赵振可、王春晓、陈宇、何玉娟、彭超、肖庆中
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国民用航空适航审定中心、散裂中子源科学中心、西北核技术研究院、中国航发商用航空发动机有限责任公司、中国航空综合技术研究所
是否包含专利信息：是
本文件给出半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序。专门针对使用散裂中子源对半导体器件进行大气中子单粒子效应加速试验，根据半导体器件工艺和散裂中子源测试条件变……