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半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 (SJ/T 11820-2022)

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半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 (SJ/T 11820-2022)

标准号SJ/T 11820-2022状态

发布于:2022-10-20

实施于:2023-01-01

半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法基本信息

标准号:SJ/T 11820-2022

制修订:制定

中国标准分类号:L 85

国际标准分类号:17.22

技术归口:全国电子测量仪器标准化技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

标准类别:产品标准

适用范围:适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01 V~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过 1 nA~10 A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10 A~1 200 A 的分立器件测试设备

起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司

起草人:刘冲、李洁、张珊 等

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