标准号GB/T 42975-2023状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
半导体集成电路 驱动器测试方法基本信息
标准号：GB/T 42975-2023
标准类别：方法
中国标准分类号：L56
国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司。
主要起草人 刘芳 、周俊 、杨晓强 、纵雷 、刘凡 、霍玉柱 、林瑜攀 、陆坚 、梁希 、王会影 。