标准号GB/T 43226-2023状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法基本信息
标准号：GB/T 43226-2023
标准类别：方法
中国标准分类号：V25
国际标准分类号： 49.140 49 航空器和航天器工程，49.140 航天系统和操作装置
归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口上报，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
主要起草单位 北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
主要起草人 赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。