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键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法 (SJ/T 10626-1995)

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键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法 (SJ/T 10626-1995)

标准号SJ/T 10626-1995状态

发布于:1995-04-22

实施于:1995-10-01

键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法

标准号:SJ/T 10626-1995

中国标准分类号:L90

国际标准分类号:31-030

批准发布部门:电子工业部

行业分类:无

本标准适用于键合金丝中银、铜、钙、镁、锰、铁、铋、铅元素的测定。其测定范围:铅、铋为0.0008%~0.0500%,其余为0.0005~0.0500%。

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