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电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量 (EJ/T 1204.3-2006)

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电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量 (EJ/T 1204.3-2006)

标准号EJ/T 1204.3-2006状态

发布于:2006-12-15

实施于:2007-05-01

电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分:忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量

标准号:EJ/T 1204.3-2006

中国标准分类号:Z33

国际标准分类号:27.120

批准发布部门:国防科学技术工业委员会

行业分类:无

张立波、李景云

核工业标准化研究所

本部分规定了两个表征给定错误概率的统计值,用以在不考虑样品处理的影响的情况下,利用高分辨率γ能谱法进行电离辐射测量中,对探测能力进行评估。 本部分适用于利用高分辨率γ能谱进行计数测量时探测限和判断阙的确定。

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