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电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量 (EJ/T 1204.2-2006)

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电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量 (EJ/T 1204.2-2006)

标准号EJ/T 1204.2-2006状态

发布于:2006-12-15

实施于:2007-05-01

电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分:考虑样品处理影响的计数测量

标准号:EJ/T 1204.2-2006

中国标准分类号:Z33

国际标准分类号:27.120

批准发布部门:国防科学技术工业委员会

行业分类:无

魏可新、李景云

中国原子能科学研究院

本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值,用以评估考虑、样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。 本部分适用于考虑样品处理影响的计数测量。

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