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光学晶体折射率测量方法 (JB/T 9495.2-1999)

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光学晶体折射率测量方法 (JB/T 9495.2-1999)

标准号JB/T 9495.2-1999状态

发布于:1999-08-06

实施于:2000-01-01

光学晶体折射率测量方法

标准号:JB/T 9495.2-1999

中国标准分类号:N05

国际标准分类号:17.180%31.030

批准发布部门:国家机械工业局

行业分类:无

u3000u3000本标准适用于利用V棱镜方法测量光学晶体的折射率。测量谱线为d,D,C,F,r,e,g,h八种谱线,测量精度:x0b△n=±3×10^(-5)。

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