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硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 (YS/T 15-2015)

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硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 (YS/T 15-2015)

标准号YS/T 15-2015状态

发布于:2015-04-30

实施于:2015-10-01

硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法

标准号:YS/T 15-2015

中国标准分类号:H21

国际标准分类号:77.040

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:制造业

马林宝、杨帆、葛华等

南京国盛电子有限公司、有研新材料股份有限公司、上海晶盟硅材料有限公司

本标准适用于外延层和扩散层与衬底导电类型不同或两层电阻率相差至少一个数量级的任意电阻率的硅外延层和扩散层厚度的测量,测量范围:1μm~100μm。

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