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硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 (YS/T 1164-2016)

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硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 (YS/T 1164-2016)

标准号YS/T 1164-2016状态

发布于:2016-07-11

实施于:2017-01-01

硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

标准号:YS/T 1164-2016

中国标准分类号:Q35

国际标准分类号:81.040

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法。

本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定,测定范围见表1。

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