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硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 (YB/T 4590-2017)

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硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 (YB/T 4590-2017)

标准号YB/T 4590-2017状态

发布于:2017-04-12

实施于:2017-10-01

硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

标准号:YB/T 4590-2017

中国标准分类号:Q51

国际标准分类号:29.050

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:制造业

王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、周智勇、李建新、张云晖、张园园、邱艳梅、郑景须。

亚洲硅业(青海)有限公司、国家石墨产品质量监督检验中心、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司、冶金工业信息标准研究院。

本标准规定了电感耦合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定,测定范围见表1。

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