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光电耦合器件低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11766-2020)

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光电耦合器件低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11766-2020)

标准号SJ/T 11766-2020状态

发布于:2020-12-09

实施于:2021-04-01

光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准号:SJ/T 11766-2020

中国标准分类号:L50

国际标准分类号:31.080.01

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

余永涛、胡为、张伟 等

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

适用于光电耦合器件1 Hz~300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

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