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半导体光电耦合器测试方法 (SJ/T 2215-2015)

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半导体光电耦合器测试方法 (SJ/T 2215-2015)

标准号SJ/T 2215-2015状态

发布于:2015-04-30

实施于:2015-10-01

半导体光电耦合器测试方法

标准号:SJ/T 2215-2015

中国标准分类号:L50

国际标准分类号:31.080.01

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

马思华、欧熠、陈春霞 等

中电子科技集团公第四十四研究所

本标准规定了半导体光电合器(以下简称“器件”)的测试方法。 本标准适用于半导体光电合器。

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