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电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法 (GB/T 37406-2019)

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电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法  颗粒动态光电投影法 (GB/T 37406-2019)

标准号GB/T 37406-2019状态

发布于:2019-05-10

实施于:2019-12-01

电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法基本信息

标准号:GB/T 37406-2019

中国标准分类号:L90

国际标准分类号: 31.030     31 电子学 31.030 电子技术专用材料

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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