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微电子封装的数字信号传输特性测试方法 (SJ/T 11704-2018)

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微电子封装的数字信号传输特性测试方法 (SJ/T 11704-2018)

标准号SJ/T 11704-2018状态

发布于:2018-02-09

实施于:2018-04-01

微电子封装的数字信号传输特性测试方法

标准号:SJ/T 11704-2018

中国标准分类号:L55

国际标准分类号:31.200

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

王琪、张崤君、贾松良 等

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。

本标准适用于高频数字微电子封装。

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