集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 (GB/T 44937.4-2024)

标准号GB/T 44937.4-2024状态

发布于：2024-12-31

实施于：2024-12-31

标准类型：PDF

集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法基本信息

标准号：GB/T 44937.4-2024

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司。

主要起草人 崔强 、付君 、乔彦彬 、方文啸 、吴建飞 、邢立文 、朱赛 、刘星汛 、李腾飞 、李彬鸿 、王少启 、谢玉章 、胡小军 、黄雪梅 、邵鄂 、李楠 、周雷 、杨红波 、颜伟 、周香 、刘洋 、陈勇志 、张红丽 。

集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 (GB/T 44937.4-2024)