标准号DB51/T 3207-2024状态
发布于：2024-12-03
实施于：2024-12-29
集成电路测试用微波探针应用规范基本信息
标准号：DB51/T 3207-2024
制修订：制定
中国标准分类号：L 86
国际标准分类号：17.220
技术归口：四川省经济和信息化厅
批准发布部门：四川省市场监督管理局
行业分类：制造业
标准类别：方法标准
适用范围：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
起草单位：中国电子科技集团公司第九研究所
起草人：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
集成电路测试用微波探针应用规范 (DB51/T 3207-2024)
