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半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 (GB/T 44924-2024)

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半导体集成电路  射频发射器/接收器测试方法 (GB/T 44924-2024)

标准号GB/T 44924-2024状态

发布于:2024-12-31

实施于:2025-04-01

标准类型:PDF

半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法基本信息

标准号:GB/T 44924-2024

标准类别:方法

中国标准分类号:L56

国际标准分类号: 31.200 31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国集成电路标准化技术委员会

执行单位:全国集成电路标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第二十四研究所、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第十四研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司。

主要起草人 苏良勇 、王露 、唐景磊 、阳润 、戚园 、刘丹 、许娟 、苏巧 、陈翔 、刘晓政 、范超 、高青 。

半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法 (GB/T 44924-2024)

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