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半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 (GB/T 42848-2023)

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半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 (GB/T 42848-2023)

标准号GB/T 42848-2023状态

发布于:2023-08-06

实施于:2023-12-01

半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法基本信息

标准号:GB/T 42848-2023

标准类别:方法

中国标准分类号:L56

国际标准分类号: 31.200 31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院。

主要起草人 何善亮 、蒲佳 、杨阳 、刘纪祖 、范超 、吴淼 、王可 、李锟 。

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