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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 (GB/T 17473.6-1998)

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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法  分辨率测定 (GB/T 17473.6-1998)

标准号GB/T 17473.6-1998状态

发布于:1998-08-19

实施于:1999-03-01

标准状态:被代替

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定基本信息

标准号:GB/T 17473.6-1998

被代替日期:2008-09-01

中国标准分类号:H23

国际标准分类号: 77.040.01     77 冶金 77.040 金属材料试验 77.040.01 金属材料试验综合

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

执行单位:全国有色金属标准化技术委员会

主管部门:中国有色金属工业协会

国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国有色金属工业协会。

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