当前位置:规范网标准国家标准厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 (GB/T 17473.3-1998)

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 (GB/T 17473.3-1998)

下载
免费下载 GB/T 17473.3-1998

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法  方阻测定 (GB/T 17473.3-1998)

标准号GB/T 17473.3-1998状态

发布于:1998-08-19

实施于:1999-03-01

标准状态:被代替

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定基本信息

标准号:GB/T 17473.3-1998

被代替日期:2008-09-01

中国标准分类号:H21

国际标准分类号: 77.040.01     77 冶金 77.040 金属材料试验 77.040.01 金属材料试验综合

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

执行单位:全国有色金属标准化技术委员会

主管部门:中国有色金属工业协会

国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为中国有色金属工业协会。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误