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硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法 (GB/T 14145-1993)

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硅外延层堆垛层错密度测定  干涉相衬显微镜法 (GB/T 14145-1993)

标准号GB/T 14145-1993状态

发布于:1993-02-06

实施于:1993-10-01

标准状态:废止

硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法基本信息

标准号:GB/T 14145-1993

废止日期:2004-10-14

中国标准分类号:H24

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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