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射频前端器件及模组测试设备 (T/BDT 002-2024)

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射频前端器件及模组测试设备 (T/BDT 002-2024)

标准号T/BDT 002-2024状态

发布日期:2024年10月09日

实施日期:2024年10月10日

射频前端器件及模组测试设备基本信息

标准编号:T/BDT 002—2024

英文标题:Radio frequency front-end devices and modules test equipment

国际标准分类号:25.040.01工业自动化系统综合

国民经济分类:C356 电子和电工机械专用设备制造

起草人:胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、汪桃红、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙

起草单位:南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文微电子科技股份有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技(上海)股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司

范围:本文件规定了射频前端器件及模组测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于射频前端器件及模组测试设备的设计、制造和检验。

内容概括:支持24射频端口器件的全自动全切换射频测试机,在满足0.5dB@0dB的校准精度的基础上实现8端口S参数和功率的自动校准,缩短校准时;间的同时减少手动校准带来误……

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