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Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法 (T/CASAS 029-2023)

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Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法 (T/CASAS 029-2023)

标准号T/CASAS 029-2023状态

发布日期:2023年06月30日

实施日期:2023年07月01日

Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法基本信息

标准编号:T/CASAS 029—2023

英文标题:Test method for microwave characteristics of Sub-6GHz GaN radio-frequency devices

国际标准分类号:31.080.01半导体器分立件综合

国民经济分类:C398 电子元件及电子专用材料制造

起草人:默江辉、吴文刚、王金延、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏。

起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

内容概括:T/CASAS029—2023《Sub-6GHzGaN射频器件微波特性测试方法》描述了Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的详细测试方法。本文件适用于共源组成……

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