当前位置:规范网标准团体标准GaN毫米波前端芯片测试方法 (T/CASAS 030-2023)

GaN毫米波前端芯片测试方法 (T/CASAS 030-2023)

下载
免费下载 T/CASAS 030-2023

GaN毫米波前端芯片测试方法 (T/CASAS 030-2023)

标准号T/CASAS 030-2023状态

发布日期:2023年06月30日

实施日期:2023年07月01日

GaN毫米波前端芯片测试方法基本信息

标准编号:T/CASAS 030—2023

英文标题:Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC

国际标准分类号:31.080.01半导体器分立件综合

国民经济分类:C398 电子元件及电子专用材料制造

起草人:周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。

起草单位:中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

内容概括:T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法,结合了近几年科研人员在毫米波……

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误