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MEMS高深宽比结构深度测量方法 光谱反射法 (T/ZOIA 30001-2022)

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MEMS高深宽比结构深度测量方法 光谱反射法 (T/ZOIA 30001-2022)

标准号T/ZOIA 30001-2022状态

发布日期:2022年12月29日

实施日期:2022年12月29日

MEMS高深宽比结构深度测量方法 光谱反射法基本信息

标准编号:T/ZOIA 30001—2022

国际标准分类号:31.260

中国标准分类号:L 50

国民经济分类:C3990 其他电子设备制造

起草人:陈晓梅、霍树春、卢永红、胡春光、杨艺、曲扬、杨芳、施玉书、马晓雪、谷焱绯

起草单位:中国科学院微电子研究所、中关村光电产业协会、天津大学、北京绿色制造产业联盟、凌云光技术股份有限公司、北京大学、中国计量科学研究院、北京总部企业协会

内容概括:本标准规定了MEMS高深宽比结构深度光谱反射测量的测量原理、测量设备、测量要求、测量方法、测量结果的不确定度评定、合成相对不确定度评定、扩展相对不确定度评定以及……

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