标准号T/CIE 116-2021状态
电子元器件故障树分析方法与程序基本信息
标准编号：T/CIE 116—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
起草人：何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
是否包含专利信息：是
本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体……