标准号T/CIE 115-2021状态
电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序基本信息
标准编号：T/CIE 115—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
起草人：来萍、陈媛、何小琦、路国光、黄云、恩云飞、林罡、黄洪钟、米金华
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、电子科技大学
是否包含专利信息：是
本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析，是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充，可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因……