当前位置:规范网标准团体标准微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法 (T/CSTM 00537-2021)

微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法 (T/CSTM 00537-2021)

下载
免费下载 T/CSTM 00537-2021

微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法 (T/CSTM 00537-2021)

标准号T/CSTM 00537—2021状态

发布时间:2021年05月11日

实施时间:2021年08月11日

微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法基本信息

标准号:T/CSTM 00537—2021

团体名称:中国标准化协会

主要技术内容:本文件规定了光功率分析法测试薄膜材料相变温度的术语和定义、原理、仪器和试剂、样品处理、仪器校准、测试过程、数据处理、不确定度评定和测试报告等。本文件适用于厚度为5nm-100μm的薄膜材料相变温度的测试,薄膜材料应相变前后光反射率不同且在测试温区内受热不分解、不挥发。厚度大于100μm的材料可参照执行。

中国标准分类号:M745 质检技术服务

国际标准分类号:31.200

发证机关:中华人民共和国民政部

行业分类:

标准名称:微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法

本文件规定了光功率分析法测试薄膜材料相变温度的术语和定义、原理、仪器和试剂、样品处理、仪器校准、测试过程、数据处理、不确定度评定和测试报告等。本文件适用于厚度为5 nm-100 μm的薄膜材料相变温度的测试,薄膜材料应相变前后光反射率不同且在测试温区内受热不分解、不挥发。厚度大于100 μm的材料可参照执行。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误