标准号JJF 1682-2017状态
发布于：2017-11-20
实施于：2018-05-20
光栅式测微仪校准规范基本信息
标准号：JJF 1682-2017
标准名称：光栅式测微仪校准规范
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院、安徽省计量科学研究院
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
发布于：2017-11-20
实施于：2018-05-20
标准号：JJF 1682-2017
标准名称：光栅式测微仪校准规范
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院、安徽省计量科学研究院
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
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