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X射线晶体定向仪 技术条件 (JB/T 5482-2004)

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X射线晶体定向仪  技术条件 (JB/T 5482-2004)

标准号JB/T 5482-2004状态

发布于:2004-06-17

实施于:2004-11-01

X射线晶体定向仪 技术条件

标准号:JB/T 5482-2004

中国标准分类号:N33

国际标准分类号:17.180.99

批准发布部门:国家发展和改革委员会

行业分类:无

赵久、刘海燕

丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。

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