标准号SJ/T 11207-1999状态
发布于：1999-08-26
实施于：1999-12-01
钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准号：SJ/T 11207-1999
中国标准分类号：L19
国际标准分类号：29.100.10
批准发布部门：信息产业部
行业分类：无
本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。