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贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 (EJ/T 1184-2005)

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贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 (EJ/T 1184-2005)

标准号EJ/T 1184-2005状态

发布于:2005-04-11

实施于:2005-07-01

贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定

标准号:EJ/T 1184-2005

中国标准分类号:F46

国际标准分类号:27.120.30

批准发布部门:国防科学技术工业委员会

行业分类:无

彭元明、蒋敬平

国营八一四厂

本标准规定了分光光度法测定品贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。 本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。 当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10~120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。

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