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发光二极管光学性能测试方法 (JB/T 10875-2008)

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发光二极管光学性能测试方法 (JB/T 10875-2008)

标准号JB/T 10875-2008状态

发布于:2008-06-04

实施于:2008-11-01

发光二极管光学性能测试方法

标准号:JB/T 10875-2008

中国标准分类号:L53

国际标准分类号:31.260

批准发布部门:国家发展和改革委员会

行业分类:无

庄松林、杨卫桥

上海理工大学、上海半导体照明工程技术研究中心等

本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。 本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和功率器件的光学性能测试参照执行。 本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。

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