当前位置:规范网标准行业标准铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法 (YS/T 739-2010)

铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法 (YS/T 739-2010)

下载
免费下载 YS/T 739-2010

铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法 (YS/T 739-2010)

标准号YS/T 739-2010状态

发布于:2010-11-10

实施于:2011-03-01

铝电解质分子比及主要成分的测定 X射线荧光光谱法

标准号:YS/T 739-2010

中国标准分类号:H12

国际标准分类号:77.120.10

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

袁艺、李刚

中国铝业股份有限公司贵州分公司、中国铝业股份有限公司青海分公司等

本标准规定了铝电解生产过程中铝电解质的分子比及CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定方法。 本标准适用于幅电解质中分子比及CaF2、MgF2、Al2O3主要成分含量的测定。测定范围分子比:1.80~3.20、CaF2:1.00%~10.00%、MgF2:0.05%~5.00%、、Al2O3:1.00%~10.00%。

声明:资源收集自网络或用户分享,仅供学习参考,使用请以正式版为准;如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误