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俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则 (SJ/T 10457-1993)

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俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则 (SJ/T 10457-1993)

标准号SJ/T 10457-1993状态

发布于:1993-12-17

实施于:1994-06-01

俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则

标准号:SJ/T 10457-1993

中国标准分类号:A42

国际标准分类号:31.020

批准发布部门:电子工业部

行业分类:无

本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。 本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的范围。

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