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发光二极管外延片测试方法 (SJ/T 11471-2014)

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发光二极管外延片测试方法 (SJ/T 11471-2014)

标准号SJ/T 11471-2014状态

发布于:2014-10-14

实施于:2015-04-01

发光二极管外延片测试方法

标准号:SJ/T 11471-2014

中国标准分类号:H83

国际标准分类号:29.045

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

潘尧波、丁晓民

上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司

本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

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