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半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 (SJ/T 11488-2015)

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半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 (SJ/T 11488-2015)

标准号SJ/T 11488-2015状态

发布于:2015-04-30

实施于:2015-10-01

半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

标准号:SJ/T 11488-2015

中国标准分类号:H83

国际标准分类号:29.045

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

何秀坤、董彦辉、刘兵 等

信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等

本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。 本标准适用于电阻率在10^4Ω·cm~10^9Ω·cm范围内的半绝缘砷化单晶材料电学参数的测量。

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