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半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则 (SJ/T 2658.1-2015)

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半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则 (SJ/T 2658.1-2015)

标准号SJ/T 2658.1-2015状态

发布于:2015-10-10

实施于:2016-04-01

半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

标准号:SJ/T 2658.1-2015

中国标准分类号:L53

国际标准分类号:31.080

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

张戈、赵英

工业和信息化部电子工业标准化研究院

本部分规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求,包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。

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