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硅片边缘轮廓检验方法 (YS/T 26-2016)

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硅片边缘轮廓检验方法 (YS/T 26-2016)

标准号YS/T 26-2016状态

发布于:2016-07-11

实施于:2017-01-01

硅片边缘轮廓检验方法

标准号:YS/T 26-2016

中国标准分类号:H21

国际标准分类号:77.040

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

本标准规定了硅片边缘轮廓(包含切口)的检验方法。

本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓(包含切口),砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。

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