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晶体管低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11765-2020)

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晶体管低频噪声参数测试方法 (SJ/T 11765-2020)

标准号SJ/T 11765-2020状态

发布于:2020-12-09

实施于:2021-04-01

晶体管低频噪声参数测试方法

标准号:SJ/T 11765-2020

中国标准分类号:L42;L44

国际标准分类号:31.080.30

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

罗宏伟、胡为、王小强 等

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

适用于双极型晶体管与场效应晶体管,其他晶体管产品可参照执行

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