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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) (GB/T 5095.2502-2021)

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电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) (GB/T 5095.2502-2021)

标准号GB/T 5095.2502-2021状态

发布于:2021-03-09

实施于:2021-10-01

电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)基本信息

标准号:GB/T 5095.2502-2021

中国标准分类号:L23

国际标准分类号: 31.220.10     31 电子学 31.220 电子电信设备用机电元件 31.220.10 插头和插座装置、连接器

归口单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

执行单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

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