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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 (GB/T 11685-2003)

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半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 (GB/T 11685-2003)

标准号GB/T 11685-2003状态

发布于:2003-07-07

实施于:2004-01-01

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法基本信息

标准号:GB/T 11685-2003

全部代替标准:GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

中国标准分类号:F80

国际标准分类号: 27.120.01     27 能源和热传导工程 27.120 核能工程 27.120.01 核能综合

归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会

执行单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30(全国核仪器仪表标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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