标准号GB/T 42838-2023状态
发布于：2023-08-06
实施于：2023-12-01
半导体集成电路 霍尔电路测试方法基本信息
标准号：GB/T 42838-2023
标准类别：方法
中国标准分类号：L56
国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。
主要起草人 尹航 、刘芳 、何万海 、唐食明 、张帆 、刘德广 。